1前言
印制電路板（PCB）信號(hào)完整性是近年來熱議的一個(gè)話題，國內(nèi)已有很多的研究報(bào)道對(duì)PCB信號(hào)完整性的影響因素進(jìn)行分析，但對(duì)信號(hào)損耗的測試技術(shù)的現(xiàn)狀介紹較為少見。
PCB傳輸線信號(hào)損耗來源為材料的導(dǎo)體損耗和介質(zhì)損耗，同時(shí)也受到銅箔電阻、銅箔粗糙度、輻射損耗、阻抗不匹配、串?dāng)_等因素影響。在供應(yīng)鏈上，覆銅板（CCL）廠家與PCB快件廠的驗(yàn)收指標(biāo)采用介電常數(shù)和介質(zhì)損耗；而PCB快件廠與終端之間的指標(biāo)通常采用阻抗和插入損耗，如圖1所示。
圖1 PCB材料及組裝的部分技術(shù)指標(biāo)
針對(duì)高速PCB設(shè)計(jì)和使用，如何快速、有效地測量PCB傳輸線信號(hào)損耗，對(duì)于PCB設(shè)計(jì)參數(shù)的設(shè)定和仿真調(diào)試和生產(chǎn)過程的控制具有重要意義。
2 PCB插入損耗測試技術(shù)的現(xiàn)狀
目前業(yè)界使用的PCB信號(hào)損耗測試方法從使用的儀器進(jìn)行分類，可分為兩大類：基于時(shí)域或基于頻域。時(shí)域測試儀器為時(shí)域反射計(jì)（Time DomainReflectometry，簡稱TDR）或時(shí)域傳輸計(jì)（TimeDomain Transmission，簡稱TDT）；頻域測試儀器為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Vector Network Analyzer，簡稱VNA）。在IPC-TM650試驗(yàn)規(guī)范中，推薦了5種試驗(yàn)方法用于PCB信號(hào)損耗的測試：頻域法、有效帶寬法、根脈沖能量法、短脈沖傳播法、單端TDR差分插入損耗法。
2.1頻域法
頻域法（Frequency Domain Method）主要使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量傳輸線的S參數(shù)，直接讀取插入損耗值，然后在特定頻率范圍內(nèi)（如1 GHz ~ 5 GHz）用平均插入損耗的擬合斜率來衡量板材合格/不合格。 大功率電感廠家 |大電流電感工廠
