X 射線檢查常用于行李的安檢掃描，例如機場的托運和手提行李檢查。待驗物品須經過 X 射線輻射，穿過物品卻未被吸收共模電感的輻射將被收集在影像探測器(通常為光電二極管)面陣上。這些探測器輸出需要特殊信號調節的超低電平電流，并且需要高分辨率數功率電感據轉換器來達到必需的分辨率以正確顯現被掃描的物品。此信號調節有時包含在單片數據采集解決方案中，正如精密模數轉換器 (ADC) 附帶電流-至-電壓 (I-to-V) 轉換的情況一樣。其它時候，離散的極低電流/噪聲前端放大器測量并放大影像探測器面陣的輸出電流，然后驅動獨立的電壓輸入 ADC。其設計方框圖如下：

　　內核系統包括：

　　DSP 處理器

　　DSP 處理器可用于成像重構，利用影像探測器面陣接收的信號生成掃描物品的圖像。

　　放大器

　　將用于 ADC 的影像探測器面陣的低至中頻信號放大需要采用超低電流和噪聲放大器。這些通常是實現所需的寬動態范圍的限幅組件。由于信號幅度各有不同，通常需要一個低噪聲的互阻抗放大器 (TIA)。

　　轉換器

　　Δ-Σ 類型的 ADC 通常具有集成電流-至-繞行電感器電壓 (I-to-V) 轉換，可用于將低電平電流轉換為被計算元件處理的數據信息。

　　當單獨的前端電感位移傳感器放大器提供電流-至-電壓 (I-to-V) 轉換時，通常需要使用電壓輸入 ADC。

　　DAC 是陣列最常用的的創建基礎。

　　電源管理

　　供采集系統用于控制系統電源。

　　溫度傳感器

　　通常系統中會有多個通道，導致系統中的環境溫度升高，從而就需要風扇控制的冷卻。